第五节 介质损耗因数(tanδ)试验

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第五节 介质损耗因数(tanδ)试验

1介质损耗因数的物理意义绝缘介质在交流电压作用下会在绝缘介质内部产生损耗,这些损耗包括绝缘介质极化产生的损耗、绝缘介质沿面爬电产生的损耗和绝缘介质内部局部放电产生的损耗等。由于绝缘介质内部产生了损耗,所以造 ......(本文共 3840 字 , 7 张图)     [阅读本文] >>


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