3.2.4 精确测定试样的晶体学取向^[4、7]

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晶体学取向的测定一般包括三种情况:一是试样在未进行倾斜,即处于零倾斜位置时,试样表面垂直于电子束方向,只要精确测定试样膜面法线的取向FN即可。应该指出,从单晶斑点衍射谱测得的晶带指数[uvw]只能有条件地视为试样表面的 ......（本文共 900 字） [阅读本文] >>

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