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位错密度是研究材料形变过程和微观结构对力学性能影响的重要参数。测定位错密度的方法有二,一是X-射线方法,它是根据位错密度对X-射线展宽的函数关系建立起来的方法。它虽不能在测量时同时看到位错,但它的结果反映了一定的 ......（本文共 488 字 ） [阅读本文] >>
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