四、原子力显微镜(AFM)分析

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四、原子力显微镜(AFM)分析

AFM是扫描探针显微镜(SPM)家族中的一员。在SPM家族中,AFM以其原子级分辨率、广泛的适用性和操作方便等优点,成为材料表面拓扑结构研究的重要工具。它是利用探针与样品原子间的力场作为成像的原始信号,克服了扫描隧道显微镜不能 ......（本文共 3308 字 , 12 张图）     [阅读本文] >>


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