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 GIS(气体绝缘金属封闭组合电器,简称GIS)罐体由金属导电回路、盆式绝缘子、SF6气体、金属外壳组成,通过红外检测的手段能发现GIS内部导电回路发热等缺陷。常见发热缺陷及原因如下:(1)内部接触不良。GIS罐体气室温度异常,热像特征 (本文共 1214 字 , 11 张图 ) [阅读本文] >>