偏振调制扫描光学显微镜方法

摘要： 基于反射差分谱原理搭建了适用于二维材料和微纳器件的偏振调制扫描光学显微镜系统,可以实现对于材料或者器件的微米级区域进行反射差分显微成像的研究.通过研究两种典型的二维层状材料MoS₂和ReSe₂的反射差分显微成像,发现相比于传统的反射显微镜,我们搭建的偏振调制扫描光学显微镜对于二维材料的层数特征更敏感,且可以用来表征二维材料的平面光学各向异性.相关研究有助于更进一步理解层状二...