基于YOLOv5的液晶屏微弱特征缺陷检测算法

摘要： 针对液晶屏显示缺陷中微弱特征缺陷经多次卷积与背景纹理同化导致的检测精度低的问题，提出了一种基于YOLOv5的液晶屏微弱特征缺陷检测改进模型YOLO-Mura。首先，在主干网络中引入Involution算子扩大感受野，增强在空间范围内的微弱特征缺陷信息，并降低模型的浮点运算次数。其次，采用CARAFE上采样算子优化上采样方式，加强对微弱特征缺陷的关注能力。然后，在颈部网络，通过嵌... （共11页）