扫描近场光学显微术的研究进展（特邀）

摘要： 扫描近场光学显微镜（SNOM）因其具有可达10 nm量级的超高光学分辨率与光谱分析能力，为物理、化学、材料科学和生命科学等领域的若干重要前沿基础科学问题提供了强有力的高时空分辨的光学表征工具。本文聚焦高分辨SNOM技术近期的研究进展，首先回顾了SNOM成像技术的基本原理和SNOM探针的发展历史。接着重点介绍了将SNOM成像技术应用于研究微纳尺度上光与原子、分子、二维材料、生物大... （共14页）