基于X射线荧光光谱分析水稻籽粒离子组

摘要： 【目的】水稻籽粒离子组通常采用电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)和电感耦合等离子体发射光谱(ICPOES)等技术进行分析，需要破坏性取样且样品前处理过程复杂。X射线荧光光谱法(XRF)一般无需进行样品处理，可以快速无损地检测样品中的元素含量。本研究建立和优化了利用XRF进行水稻籽粒离子组分析的方法。【方法】通过比较不同的试验条件对水稻籽粒中不同元素XRF谱图的影响，确定适合进...