D-PSO算法的单变量测试参数集成电路筛选方法

摘要： 针对集成电路尺寸缩小和复杂度提升导致的筛选成本提高问题，提出了一种针对单变量测试参数的集成电路筛选方法。具体先使用归并排序算法将参数值与集成电路编号拼接成数组，确保后续筛选的准确性，并按照参数值对数据进行排序。然后，利用K-means算法对测试数据的异常值进行预处理，对测试数据进行初步优化。最后，通过结合导数与粒子群优化算法创新性地提出了D-PSO算法，D-PSO算法增强了拐点...