Zn吸收边附近质量衰减系数测量

摘要： 物质材料的光子质量衰减系数的准确值可为不同领域提供基本数据。由于单能X射线辐射装置能量连续可调、光子数可测，产生的X射线单能窄束，使其成为研究质量衰减系数(μ/ρ)的理想器件。研究了在8～20 keV能量范围内，Zn样品在K吸收边附近(9～11 keV),以0.1 keV步长，基于单能X射线装置的质量衰减系数测量方法，并利用实验得到的测量值与NIST理论值进行比较分析。结果表明... （共5页）