基于光子计数测量的GIS/GIL环氧绝缘材料表面微缺陷检测研究

摘要： 为弥补传统方法对环氧基绝缘微缺陷探测精度的不足，本文基于不同缺陷影响下光子释放信息的计数分析提出了一种新的缺陷检测方法。通过制备具有划痕、表面毛刺及金属微粒缺陷的绝缘拉杆及盆式绝缘子样本，进而在交流电压激励下获得上述样本局放起始前的光子计数结果。结果表明：严重缺陷样本平均光子计数可高达无缺陷样本平均光子计数的12倍以上，且光子计数结果受缺陷种类、尺寸、位置及绝缘气体影响显著，其...