面向同轴封装金属底座缺陷的Metal-YOLO检测算法
激光与光电子学进展
页数: 9 2024-04-24
摘要: 针对同轴封装金属底座缺陷检测中存在的检测精度不足、误检和漏检的问题,提出了一种基于YOLO v5s的改进模型,即Metal-YOLO检测算法。通过引入跨层特征增强连接(CFEC)显著增强模型对复杂小目标缺陷的表征能力,从而有效降低漏检率。为进一步提升模型对不同尺度缺陷特征的感知和判别能力,在模型中融入自适应注意力模块(AAM),有效减少背景信息的干扰。此外,针对完全交并比(CI... (共9页)