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 这种STEM为附件型,一般附加在SEM或TEM上,其分辨率较低,如是透射电镜附件型,分辨率一般可达1~1.5nm;如是扫描电镜附件型,分辨率一般只有4~6nm。这种附件型STEM主要用于X射线能谱、波谱分析或电子损失谱分析,用以观察元素的分布图。 (共 456 字) [阅读本文] >>