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 能谱分析仪的构造如图4-2所示,其工作过程为:样品在高能电子束轰击下产生的特征X射线光子被Si(Li)探头接受以后,其信号产生总电荷,总电荷电量为Q=1.9×10-19E/3.6(库仑),总电量在FET(场效应晶体管)中积分,形成电流脉冲,然后反馈到前置放 (共 378 字) [阅读本文] >>