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 以不接触光学定位方法瞄准被测长度,主要用于测量线纹距离的精密长度测量工具。 比长仪一般采用测量显微镜或光电显微镜作为瞄准定位部件,并以精密线纹尺的刻度或光波波长作为已知长度,与被测长度比较而确定量值。 (本文共 531 字 , 1 张图 ) [阅读本文] >>