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 一、发现经过2010年11月19日,红外检测中发现,某35kV375TA存在A、B相接点发热现象,如图2-17所示。二、检测分析2011年1月27日,经现场检测,引线接触面接触电阻合格,而本体接触面接触电阻偏大,如图2-18所示。图2-1735kV375TA红外热谱图图2-18接 (共 1853 字) [阅读本文] >>